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行业技术

超声扫描:研究晶圆键合的技术

作者:Hiwave和伍精密 发布时间:2024-08-16 17:10:44点击:275


在现代半导体制造中,晶圆键合技术逐渐成为核心技术之一,它显著提高了集成电路的性能和可靠性。

此技术通过精密结合多个晶圆,增强了集成度、性能和可靠性,同时优化了功耗和散热,广泛应用于高性能计算、低功耗电子设备及异质集成系统。


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1. 表面准备

清洁处理:使用化学药剂和超声波清洗设备去除晶圆表面的有机污染物、颗粒和氧化物,常用清洁剂包括氢氟酸(HF)和其他去氧化剂。

表面粗糙度控制:通过机械抛光或化学机械抛光(CMP)使晶圆表面光滑,以减少粗糙度和增加接触面积。

表面活化:采用原子层沉积(ALD)或等离子体处理等方法活化表面,提高化学反应能力和粘合性。

2. 对准

对准设备:使用精密的光学或激光对准系统确保晶圆准确对齐,对准误差需控制在微米级别。

对准策略:对于多层键合,使用对准标记或图案帮助自动对准系统进行精确对齐,这些标记在晶圆表面预先刻蚀。

3. 键合

键合方式:

热压键合:通过加热和施加压力在高温下实现键合,常用于硅-硅键合。

冷压键合:在室温下施加压力,适用于低温键合材料,如玻璃或某些聚合物。

粘合剂键合:使用专门的粘合剂实现晶圆之间的结合,适合不同材料之间的键合。

压力和温度控制:精确控制施加的压力和温度,确保键合层的均匀性和稳定性,通常在受控环境下进行以避免外部因素干扰。

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晶圆内圆圈处为晶圆键合缺陷

超声扫描显微镜是晶圆键合过程中的重要检测工具。它通过超声波技术高分辨率扫描键合层,检测以下几个方面:

键合质量:检查键合层的厚度、均匀性,识别空洞或其他缺陷,确保质量。

缺陷定位:准确定位键合层中的缺陷,如气泡、裂纹或分层,帮助工程师进行调整和修复。

层间粘结:检测不同层间的粘结情况,确保结合充分且牢固,防止性能问题。

材料分析:测量声速变化,以评估材料的均匀性和结构完整性。

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晶圆键合技术在半导体制造中不仅提升了集成度和性能,还带来了显著的功耗降低和生产效率提升。通过超声扫描显微镜的检测,

可以确保键合层质量,及时发现和修复缺陷,从而提高产品的可靠性。选择合适的晶圆键合技术和高效检测方式,为产品提供更优质的性能和更长久的使用寿命。

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