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什么是超声波A扫描、C扫描

作者:Hiwave和伍精密 发布时间:2024-11-11 17:03:03点击:65

什么是超声波A扫描、C扫描

超声波A扫描超声波A扫描是点扫描,是波形

超声波C扫描1.超声波C扫描是面扫描

2.C扫描图像是根据多个A扫描波高绘制而成的, C扫描表示被检工件的投影面的状况,通过图像可清晰直观看到缺陷的轮廓及严重程度。

C 扫描成像原理

比方100*100的一个矩形工件,用C扫描扫查,每1mm*1mm记录一个A扫描波形,100*100需要记录10000个A扫描波形,根据这10000个A扫描波形的高低不同生成C扫描图像,这就是C扫描成像的原理,也是对C扫描成像原理形象的解释。

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C 扫描优势

优势一:“点聚焦探头”让超声能量高度集中,可以检测出更细微的缺陷

C扫描使用点聚焦探头,如图1点聚焦探头示意图,通过探头中的透镜,把一束超声波聚焦为1个点,能量高度集中,能发现更细微缺陷;

图2 是实测的点聚焦探头的声场图,检测时把板厚置于焦柱范围内即可,制作探头时焦柱长度可控制在5~50mm。

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优势二:“密集的步距”保证了扫查的高度精细化

常规A扫探伤时,步距一般是探头晶片的尺寸,一般是10~20mm

但C扫描一般控制在0.1~3之间,当然步距太小会极大地降低检测效率。

比如:如果人工检测,用直径20mm的探头检测,100*100的区域一般观察25个点。C扫描选择1mm步距时,是记录了10000个点

25点和10000个点相比,扫查的精细化显而易见

优势三:“扫查过程全自动”避免了人为因素

设置好参数以后,让设备自动运行,中间无需人工干预,避免了人为误差。

优势四:C扫图像直观

A扫描探伤需要专业探伤人员操作,需要经验判断

C扫描是自动化扫查,不依赖操作人员的经验

缺陷用图像表示,直观、一目了然。

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