欢迎来到上海和伍精密仪器股份有限公司

行业技术

超声扫描显微镜ABCT扫描模式

作者:Hiwave和伍精密 发布时间:2024-06-10 11:04:19点击:646

超声扫描显微镜是一种无损检测设备,其扫描范围广,扫描精度高,成像直观,在工业半导体,芯片,复合材料,航空航天材料,集成电路元器件,新能源汽车零部件,金刚石复合片,内部缺陷检测领域备受欢迎。超声扫描具备多种不同的扫描成像模式,让我们看看他们的区别吧!

超声扫描显微镜ABCT扫描模式 

A型扫描显示是一种波形显示。在屏幕上 横坐标代表时间,纵坐标代表反射波的强度。

B扫描显示是一种纵截面图像显示。在屏幕上 横坐标是靠机械扫描来代表探头的扫差轨迹,纵坐标是靠电子扫描来代表超声波的传播时间, 可以检测缺陷的深度。

C扫描显示是一种横截面图像显示。型扫描显示仪器示波屏代表被检工件的投影面,这种显示能绘出缺陷的水平方向横截面超声图,可以检测缺陷的面积,但不能给出缺陷的埋藏深度。

T扫描显示的是超声穿透工件的全息图像。可以根据超声传透工件接收回波的强弱,对检测工件的种整体分析判断。

 

1、超声A扫描

 

A扫描是波形显示,在示波器屏幕上横坐标代表时间,纵坐标代表反射波的强度,根据反射波的强度判断缺陷的严重程度,根据反射波在横轴的位置人工计算出缺陷的位置。操作人员需要根据示波器上的波形,将缺陷的大致范围标记在工件上。

一般低频超声无损探伤领域的大尺寸工件经常使用A扫描进行缺陷判断,比如隧道,管道,油管,铁轨领域的专业探伤。

超声扫描显微镜ABCT扫描模式 

Hiwave和伍精密超声A扫描波形图

缺点:A扫描的缺点在于检测结果不直观,没有基础的人无法理解,效率低,检测结果因人而异,人为误差较大。

 

2、超声C扫描是工业探伤中一种常用的扫描模式

超声扫描显微镜ABCT扫描模式 

Hiwave和伍精密超声扫描显微镜检测金刚石复合片C扫描图片

 

在测量金刚石圆片过程中,如果采用C扫描模式,那么我们会看到超声探头在圆片上来回移动,并在原片上取多个点,观察每一处的波形,根据公式:厚度=时间×速度,计算出每一点的金刚石厚度,并将结果标记在原片上,圆片上取点的数量越多,厚度分布越清晰。 

3、超声T扫描,超声T扫描是超声波穿过检测工件的一种超声强度全息图像。如下:可结合超声各个界面图像来综合判断工件缺陷的一种综合参考全息图像。如下图:


超声扫描显微镜ABCT扫描模式 

Hiwave和伍精密超声扫描显微镜检测芯片T扫描图像

Hiwave和伍精密研发的Hiwave 超声扫描显微镜可不同的A扫描,B扫描,C扫描,T扫描等,可以灵活运用各类不同材料的检测工件。检测精度高,成像分辨率好,可达微米级别,性能稳定。用于检测材料内部各个不同界面缺陷。也可以结合各个不同界面的图像做出合理的缺陷分析,为检测工件保正质量品质。

新闻资讯
相关产品