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9月10日,和伍精密邀您共赴国际电接触学术盛会,约么?
 
     2017年9月10日~13日,2017年第63届IEEE Holm电接触会议(The 63st IEEE Holm Conference on Electrical Contacts)将在美国科罗拉多州丹佛市召开。

    IEEE Holm电接触会议是由IEEE下属的元件、封装和制造技术协会(CPMT),主管电接触、连接器和电缆的第一技术分委员会(TC-1)和Holm会议执行委员会共同组织的,关于电接触科学理论研究及其应用的学术会议,是电接触领域内历史最长、水平最高的国际性学术会议。


 
     上海和伍精密仪器股份有限公司技术团队应邀参加了此次会议。将与来自世界各地的150多位电接触领域的专业人士分享在焊接质量检测方面的研究成果,并与会代表共同探讨电接触领域的发展趋势。另外,和伍精密将于9月12日举行公开活动,诚邀各位莅临现场的专家莅临交流。

 

 

会议信息

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会议名称:第63届IEEE Holm电接触会议(The 63st IEEE Holm Conference on Electrical Contacts)

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会议时间:2017年9月10日~13日

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会议地点:丹佛,科罗拉多州,美国

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展位号:3号

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论文报告:

 题目:Research on the resolving power of Ultrasonic Nondestructive Testing Technique on the minor Welding Defects on Low - voltage Electrical Apparatus

 时间:9月12日(周二)上午11:10 ~ 11:30

 报告人:上海和伍精密仪器股份有限公司 裘揆 总经理

 

公开活动预告:


 
 
 
 
 

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